{{ ELEMENTS.length }}
Наименование
Цена
Количество
Артикул : {{ item.MODEL }}
{{ item.STATUS }}
{{ item.PRICE }}
{{ item.OLD_PRICE }}
- +
Вы экономите: {{ DATA.TOTAL_DISCOUNT_SUM }}
Итого: {{ DATA.TOTAL_SUM }}

Телефон: +7 495 001 45 38

Language

Свяжитесь с нами сейчас info@ckicgroup.ru

    
  • 5E-XRF2501(*Интегрированный) EDXRF СпектрометрНОВЫЙ!
5E-XRF2501(*Интегрированный) EDXRF СпектрометрНОВЫЙ!

5E-XRF2501(*Интегрированный) EDXRF СпектрометрНОВЫЙ!

Спектрометр XRF2501 (интегрированный) EDXRF использует спектроскопию рентгеновского флуоресценционного излучения с дисперсией энергии, которая является качественным и количественным методом анализа для быстрого и неразрушающего определения основных и малых элементов в различных типах образцов (твердых, порошковых, жидких).
  • Характеристики
  • Спецификация
  • Запчасти
  • Применение
 Каждая секунда имеет значение для контроля процесса и качества. Результаты тестов срочно нужны с момента получения образца. XRF2501(*Интегрированный) оснащен простым и интуитивно понятным интерфейсом, который позволяет загружать образцы, нажимать на кнопку и получать качественные результаты за секунды.

По сравнению с технологиями атомно-абсорбционной спектрометрии (AAS), атомно-флуоресцентной спектрометрии (AFS), индуктивно-связанной плазменной спектрометрии (ICP) и масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP-MS), XRF2501(*Интегрированный) не требуется растворять и переваривать образцы или использовать химические реагенты. Анализ происходит быстро, не разрушая образцы. XRF2501(*Интегрированный) может использоваться для анализа образцов, будь то твердые или жидкие, прессованные или порошковые, крупные или мелкие.


Широкая применимость: Подходит для твердых, жидких, порошковых и частиц образцов.

Простая эксплуатация: 
Нет необходимости в сложной предварительной обработке образцов. Пользователям нужно только поместить образцы в зону тестирования и нажать «Старт», чтобы завершить анализ.

Высокая эффективность:
1-15 минут на анализ одного образца (может быть отрегулировано по необходимости).

Модульный дизайн:
Встроенный вакуумный насос и внешний компьютер с 23-дюймовым HD-экраном.
Бесплатное сочетание по мере необходимости подходит для различных сценариев использования.


Низкая стоимость:
Не требуются химические и другие расходные материалы, и гелий не расходуется в режиме вакуума.

Лучшее разрешение и CR:
Принята новейшая немецкая детекторная система VITUS силиконового дрейфа с лучшей скоростью счета и энергетическим разрешением. Полностью используется мощность 50 Вт оптической трубки, обеспечивая высокую стабильность и чувствительность XRF2501(*Интегрированный).

Широкий диапазон:
Все элементы от Na до U тестируются на концентрации от PPM до 100%.

Безопасная эксплуатация:
Тестовая камера прибора оснащена тройными мерами защиты, включая толстую медь, электронный межблочный дизайн и программное прерывание, что абсолютно гарантирует отсутствие утечки рентгеновского излучения в любой тестовой среде.
Модель XRF2501(*Интегрированный) EDXRF Спектрометр
Габариты (Д х Ш х В) 680×550×400 мм
Элементы Все элементы от Na до U
Диапазон концентрации ppm - 100%
Область применения Анализ содержания фосфора в угле и золе угля (Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5, SO3, K2O, CaO, Fe2O3 и т. д.); цемент, RoHS, геологическая добыча, пластиковые полимеры, нефтехимия, металлургия, охрана окружающей среды, медицина, археологическое искусство, пищевая и косметическая промышленность.
Типы образцов Порошок, Частица, Раствор, Соль, Твердое вещество и т. д.
Пример вращения Увеличьте площадь испытаний, повернув образец, чтобы повысить повторяемость и точность.
Рентгеновская трубка Дополнительные целевые материалы Максимальная мощность: 50 Вт Максимальное напряжение: 50 кВ Максимальный ток: 1 мА
Детекторы Детектор дрейфа кремния Энергетическое разрешение: 127 эВ FWHM @ Mn Kα Скорость счета: 1000000 имп/с Охлаждение Пельтье
Система очистки Встроенная система промывки гелием повышает производительность испытаний порошковых образцов.
Система защиты от загрязнения Интегрированная система защиты детектора и рентгеновской трубки для предотвращения протечек жидкого образца, падения частиц твердого образца и повреждения детектора и рентгеновской трубки от пыли.
Вакуумная система Образец планшета измеряется в вакуумном режиме и не потребляет гелий.
Безопасность при работе с радиацией Соблюдать стандарт GBZ115—2002 "Стандарты радиационной защиты для рентгенодифракционного и флуоресцентного аналитического оборудования"