Спектрометр 5E-XRF2510 EDXRF

Спектрометр 5E-XRF2510 EDXRF использует метод дисперсии энергии рентгеновских лучей (EDXRF), который является качественным и количественным методом анализа для быстрого и неразрушающего определения основных и малых элементов в различных типах образцов (твердых, порошкообразных, жидких).

Купить

Характеристики
Спецификация
Запчасти
Применение

Широкая применимость: Подходит для твердых, жидких, порошковых и частиц образцов.

Легкая эксплуатация:
Нет необходимости в сложной предварительной обработке образцов. Пользователям нужно только поместить образцы в зону тестирования и нажать «Старт», чтобы завершить анализ.

Высокая эффективность:
1-15 минут на анализ одного образца (может быть отрегулировано по необходимости). С роботизированным манипулятором XRF2510 может автоматически загружать 60 образцов за один цикл, что значительно повышает эффективность тестирования.

Модульный дизайн:
Свободное комбинирование по мере необходимости подходит для различных сценариев использования.

Низкая стоимость:
Не требуется химических и других расходных материалов, и гелий не расходуется в вакуумном режиме.

Лучшее разрешение и КПД:
Применение передового детектора на основе кремния с лучшей скоростью счета и энергетическим разрешением. Полное использование мощности 50 Вт оптической трубки обеспечивает высокую стабильность и чувствительность.

Широкий диапазон:
Все элементы от Na до U тестируются в концентрациях от PPM до 100%.

Безопасная эксплуатация:
Тестовая камера прибора имеет тройные меры защиты, включая толстую медь, электронный межблокировочный дизайн и программное прерывание, что абсолютно гарантирует отсутствие утечки рентгеновского излучения в любой среде тестирования.

Управление сенсорным экраном:
Эргономичный дизайн сенсорного экрана позволяет операторам избавиться от ограничений клавиатуры и мыши. Программное обеспечение простое и интуитивно понятное. Любой может использовать программное обеспечение управления сенсорным экраном для работы с прибором, что делает весь анализ более простым и быстрым.

Модель	Спектрометр 5E-XRF2510 EDXRF
Габариты (Д х Ш х В)	760×680×880 мм
Элементы	Все элементы от Na до U
Диапазон концентрации	ppm - 100%
Область применения	Анализ содержания фосфора в угле и золе угля (Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5, SO3, K2O, CaO, Fe2O3 и т. д.); цемент, RoHS, геологическая добыча, пластиковые полимеры, нефтехимия, металлургия, охрана окружающей среды, медицина, археологическое искусство, пищевая и косметическая промышленность.
Типы образцов	Порошок, Частица, Раствор, Соль, Твердое вещество и т. д.
Рентгеновская трубка	Дополнительные целевые материалы Максимальная мощность: 50 Вт Максимальное напряжение: 50 кВ Максимальный ток: 1 мА
Детекторы	Детектор на кремнии с дрейфовым затвором Энергетическое разрешение: 127 эВ FWHM @ Mn Kα Скорость счета: 100000 имп/с Охлаждение Пельтье
Система очистки	Встроенная система промывки гелием повышает производительность испытаний порошковых образцов.
Система защиты от загрязнения	Интегрированная система защиты детектора и рентгеновской трубки для предотвращения протечек жидкого образца, падения частиц твердого образца и повреждения детектора и рентгеновской трубки от пыли.
Вакуумная система	Образец планшета измеряется в вакуумном режиме и не потребляет гелий.
Безопасность при работе с радиацией	Соблюдать стандарт GBZ115—2002 "Стандарты радиационной защиты для рентгенодифракционного и флуоресцентного аналитического оборудования"
Размер спектральной камеры	110 (диаметр) × 125 (высота) мм
Режим атмосферы	Режим воздуха Подходит для анализа тяжелых элементов во всех типах образцов Система гелия Обеспечивает лучшую производительность для анализа легких элементов в летучих жидких образцах, таких как топлива Вакуумная система Образец в виде таблетки измеряется в вакуумном режиме и не требует использования гелия.